AG超级奖池大规模集成电路失效分析全国6大专项实验室聚焦集成电路失效分析技术,拥有业界专家团队及先进的失效分析设备,可为客户提供完整的失效分析检测服务,帮助制造商快速准确地定位失效,找到失效根源。
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更新日期:2025-08-30
在线留言| 品牌 | AG超级奖池 | 加工定制 | 是 | 
|---|---|---|---|
| 服务区域 | 全国 | 服务周期 | 常规3-5天 | 
| 服务类型 | 元器件筛选及失效分析 | 服务资质 | CMA/CNAS认可 | 
| 证书报告 | 中英文电子/纸质报告 | 增值服务 | 可加急检测 | 
| 是否可定制 | 是 | 是否有发票 | 是 | 
大规模集成电路失效分析全国6大专项实验室服务范围
大规模集成电路芯片
检测项目
试验类型  | 试验项?  | 
无损分析  | X-Ray、SAT、OM 外观检查  | 
电特性/电性定位分析  | IV曲线量测、Photon Emission、OBIRCH、ATE测试与三温(常温/低温/高温)验证  | 
破坏性分析  | 塑料开封、去层、板级切片、芯片级切片、推拉?测试  | 
微观显微分析  | DB FIB切片截?分析、FESEM检查、 EDS微区元素分析  | 
相关资质
CNAS
大规模集成电路失效分析全国6大专项实验室服务背景
汽车新“四化"要求更强大的芯片功能,同时,车规级集成电路的集成度日益提?,也使车规级半导体芯片结构和制造工艺也日益复杂。这对可靠性提出了更高的要求,也带来了更大的难度,集成电路更容易失效,但失效定位与根源分析却成为一大难题。
我们的优势
广电计量聚焦集成电路失效分析技术,拥有业界专家团队及先进的失效分析设备,可为客户提供完整的失效分析检测服务,帮助制造商快速准确地定位失效,找到失效根源。同时,我们可针对客?的研发需求,提供不同应?下的失效分析咨询、协助客户开展实验规划、以及分析测试服务,如配合客户开展NPI阶段验证,在量产阶段(MP)协助客户完成批次性失效分析。